舟子催我快點寫，謹遵命。但我得想想怎么表達，畢竟說的是本行業(yè)里的話。

我們有一種設備，是通過光學原理來測量磁頭的飛行高度。在這里，所用的碟片是一張厚厚的精密玻璃碟，透明的。硬度越高的材料，就越有可能加工出更平的表面，達到更少的變形，這是這里要用玻璃碟的原因之一，精度高。更重要的，可以通過激光的干涉原理來測量納米級的微小間隙。高中的物理就涉及到這些理論了，不知還有沒有人記得“牛頓環(huán)”這個名字。總而言之，我們用這臺設備可以模擬磁頭在碟片上的飛行，然后精確的量出磁頭的飛行狀態(tài)。諸如高度，傾斜。如果結果不理想，我們可以回過頭去分析彈性片的結構是否合理，以及磁頭上那些精微的槽的幾何形狀是否合理。

到了這一步，我們基本上能確定這個磁頭的尺寸設計是否可用了。在磁頭做成半成品后，才是真正的測試！基本上和在硬盤里面一致。最基本的流程是在磁碟上寫一些信號，然后讀回來，分析信號的失真和遺漏等等，這樣的設備叫做硬盤分析器。每一個磁頭都要經(jīng)過硬盤分析器的測試。

在實際情況中，如果磁頭飛高了，寫到碟上的信號會變?nèi)?，讀回來的信號也會變?nèi)?，有可能丟失數(shù)據(jù)；如果磁頭飛低了，信號雖然好了，但觸碟的風險大大增加，一旦觸碟，就是報廢。我們做的硬盤分析器其實就相當于一把尺子，用這把尺子去量所有的磁頭，把不合格品找出來。但首先，我們要保證這把尺子的準確程度，因為這樣的尺子我們有成百上千呢！如果一個磁頭在這臺分析器上量出來是一個值，在另一臺分析器上量出來又是另外一個值，那么使用者就會懷疑它的準確性了。我們控制的規(guī)格之一是不同的分析器之間，同一批磁頭的飛行高度均值誤差不超過1個納米。

較早的比較可靠和成熟的硬盤分析器是佳能公司開發(fā)的。日本人在開發(fā)設備方面確實有專長，不過設備價格昂貴，一臺要一百多萬。我們開始自主開發(fā)大約是在5，6年前，經(jīng)過這些年的摸索，成功地開發(fā)出兩代產(chǎn)品，并且實現(xiàn)了自動化。如果做效率成本比較的話，我們開發(fā)的設備的制造成本只有日本機器的十分之一吧！在硬盤制造行業(yè)里面，也算是獨步天下了！

（未完待續(xù)）